> > > > > point-defects-in-semiconductors-vol-2-experimental-aspects

Bourgoin - Point Defects In Semiconductors: Vol. 2: Experimental Aspects

Het boek Point Defects In Semiconductors: Vol. 2: Experimental Aspects van de auteur Bourgoin is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Point Defects In Semiconductors: Vol. 2: Experimental Aspects" is nieuw te koop vanaf € 85,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 85,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Point Defects In Semiconductors: Vol. 2: Experimental Aspects

Type: Hardcover
ISBN: 9783540115151
Levertijd: 30 werkdagen

Aanbieder:
€ 85,99


Andere populaire boeken van Bourgoin
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Seriemoorden

ISBN: 9789052320854


Bekijk boek

Nieuw (0)
Tweedehands (6)
vanaf € 9,99
Nieuw (2)
vanaf € 15,69
Tweedehands (0)
Nieuw (1)
€ 7,35
Tweedehands (0)