> > > > > thin-film-analysis-by-xray-scattering

Mario Birkholz - Thin Film Analysis By X-ray Scattering

Het boek Thin Film Analysis By X-ray Scattering van de auteur Mario Birkholz is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Thin Film Analysis By X-ray Scattering" is nieuw te koop vanaf € 177,04 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 177,04 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Thin Film Analysis By X-ray Scattering

Type: Hardcover
ISBN: 9783527310524
Levertijd: 9

Aanbieder:
€ 177,04
Bekijk boek