> > > > > high-resolution-xray-diffractometry-and-topography

Bowen - High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

Het boek High Resolution X-ray Diffractometry And Topography van de auteur Bowen is 2 maal gevonden, 2 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "High Resolution X-ray Diffractometry And Topography" is nieuw te koop vanaf € 68,99 bij Bol.com.

Nieuw (2) vanaf € 68,99 bij Bol.com Toon 2 nieuwe boeken
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 2 nieuwe boeken gevonden
High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

Type: Paperback
ISBN: 9780367400637
Levertijd: 43

Aanbieder:
€ 68,99
High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

Type: Hardcover
ISBN: 9780850667585
Levertijd: 43

Aanbieder:
€ 187,99


Andere populaire boeken van Bowen
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Nieuw (5)
vanaf € 30,64
Tweedehands (0)
Plutarch

ISBN: 9781849025799


Bekijk boek

Nieuw (5)
vanaf € 28,99
Tweedehands (0)
The Occult Way

ISBN: 9781494049409


Bekijk boek

Nieuw (2)
vanaf € 25,41
Tweedehands (1)