> > > > > high-resolution-xray-diffraction-and-topography

D. Keith Bowen - High Resolution X-ray Diffraction And Topography

Het boek High Resolution X-ray Diffraction And Topography van de auteur D. Keith Bowen is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "High Resolution X-ray Diffraction And Topography" is nieuw te koop vanaf € 210,68 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 210,68 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
High Resolution X-ray Diffraction And Topography

Type: Hardcover
ISBN: 9780850667585
Levertijd: 16

Aanbieder:
€ 210,68
Bekijk boek


Andere populaire boeken van D. Keith Bowen
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
High Resolution X-ray Diffractometry And Topography

ISBN: 9780367400637


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 77,99
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van D. Keith Bowen