> > > > > educational-and-psychological-testing-in-a-global-context-next-generation-technologyenhanced-assessment

Edited By John W. Sc - Educational And Psychological Testing In A Global Context- Next Generation Technology-enhanced Assessment

Het boek Educational And Psychological Testing In A Global Context- Next Generation Technology-enhanced Assessment van de auteur Edited By John W. Sc is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Educational And Psychological Testing In A Global Context- Next Generation Technology-enhanced Assessment" is nieuw te koop vanaf € 43,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 43,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Educational And Psychological Testing In A Global Context- Next Generation Technology-enhanced Assessment

Type: Paperback
ISBN: 9781107561533
Levertijd: 19

Aanbieder:
€ 43,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Edited By John W. Sc
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Cambridge Handbooks In Language And Linguistics-the Cambridge Handbook Of Bilingual Processing

ISBN: 9781107630765


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 51,49
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Edited By John W. Sc