> > > > > nanometerscale-defect-detection-using-polarized-light

Pierre-richard Dahoo - Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Het boek Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light van de auteur Pierre-richard Dahoo is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light" is nieuw te koop vanaf € 159,00 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 159,00 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Type: Hardcover
ISBN: 9781848219366
Levertijd: 20

Aanbieder:
€ 159,00
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Pierre-richard Dahoo
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Applications And Metrology At Nanometer-scale 2

ISBN: 9781786306876


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 166,99
Tweedehands (0)
Applications And Metrology At Nanometer Scale 1

ISBN: 9781786306401


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 161,46
Tweedehands (0)
Infrared Spectroscopy Of Triatomics For Space Observation

ISBN: 9781786303936


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 159,00
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Pierre-richard Dahoo