> > > > > an-introduction-to-timeofflight-secondary-ion-mass-spectrometry-tofsims-and-its-application-to-materials-science

Sarah Fearn - An Introduction To Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (tof-sims) And Its Application To Materials Science

Het boek An Introduction To Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (tof-sims) And Its Application To Materials Science van de auteur Sarah Fearn is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "An Introduction To Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (tof-sims) And Its Application To Materials Science" is nieuw te koop vanaf € 47,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 47,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
An Introduction To Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (tof-sims) And Its Application To Materials Science

Type: Paperback
ISBN: 9780750328005
Levertijd: 18

Aanbieder:
€ 47,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Sarah Fearn
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Iop Concise Physics-an Introduction To Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (tof-sims) And Its Application To Materials Science

ISBN: 9781643279107


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 115,00
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Sarah Fearn