> > > > > measurement-of-residual-and-applied-stress-using-neutron-diffraction

Hutchings, Michael J. - Measurement Of Residual And Applied Stress Using Neutron Diffraction

Het boek Measurement Of Residual And Applied Stress Using Neutron Diffraction van de auteur Hutchings, Michael J. is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Measurement Of Residual And Applied Stress Using Neutron Diffraction" is nieuw te koop vanaf € 84,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 84,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Measurement Of Residual And Applied Stress Using Neutron Diffraction

Type: Hardcover
ISBN: 9780792318095
Levertijd: 16

Aanbieder:
€ 84,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Hutchings, Michael J.
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Chromic Phenomena

ISBN: 9781847558688


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 157,56
Tweedehands (0)
Symposia Of The British Ecological Society-the Ecological Consequences Of Environmental Heterogeneity

ISBN: 9780521549356


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 92,45
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Hutchings, Michael J.