> > > > > reliability-of-highk-metal-gate-fieldeffect-transistors-considering-circuit-operational-constraints

Steve Kupke - Reliability Of High-k / Metal Gate Field-effect Transistors Considering Circuit Operational Constraints

Het boek Reliability Of High-k / Metal Gate Field-effect Transistors Considering Circuit Operational Constraints van de auteur Steve Kupke is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Reliability Of High-k / Metal Gate Field-effect Transistors Considering Circuit Operational Constraints" is nieuw te koop vanaf € 46,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 46,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Reliability Of High-k / Metal Gate Field-effect Transistors Considering Circuit Operational Constraints

Type: Paperback
ISBN: 9783741208690
Levertijd: 29

Aanbieder:
€ 46,99
Bekijk boek