> > > > > reliability-yield-and-stress-burnin

Way Kuo - Reliability, Yield, And Stress Burn-in

Het boek Reliability, Yield, And Stress Burn-in van de auteur Way Kuo is 2 maal gevonden, 2 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Reliability, Yield, And Stress Burn-in" is nieuw te koop vanaf € 161,99 bij Bol.com.

Nieuw (2) vanaf € 161,99 bij Bol.com Toon 2 nieuwe boeken
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 2 nieuwe boeken gevonden
Reliability, Yield, And Stress Burn-in

Type: Hardcover
ISBN: 9780792381075
Levertijd: 12

Aanbieder:
€ 161,99
Bekijk boek
Reliability, Yield, And Stress Burn-in

Type: Paperback
ISBN: 9781461375968
Levertijd: 12

Aanbieder:
€ 161,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Way Kuo
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
The Absence Of Soulware In Higher Education

ISBN: 9781394174744


Bekijk boek

Nieuw (2)
vanaf € 107,10
Tweedehands (0)
Optimal Reliability Design

ISBN: 9780521031912


Bekijk boek

Nieuw (2)
vanaf € 61,99
Tweedehands (0)
Importance Measures In Reliability, Risk, And Optimization

ISBN: 9781119993445


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 105,00
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Way Kuo