> > > > > metrology-and-diagnostic-techniques-for-nanoelectronics

Zhiyong Ma - Metrology And Diagnostic Techniques For Nanoelectronics

Het boek Metrology And Diagnostic Techniques For Nanoelectronics van de auteur Zhiyong Ma is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Metrology And Diagnostic Techniques For Nanoelectronics" is nieuw te koop vanaf € 414,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 414,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Metrology And Diagnostic Techniques For Nanoelectronics

Type: Hardcover
ISBN: 9789814745086
Levertijd: 15

Aanbieder:
€ 414,99
Bekijk boek