> > > > > applied-measurement-with-jmetrik

J. Patrick Meyer - Applied Measurement With Jmetrik

Het boek Applied Measurement With Jmetrik van de auteur J. Patrick Meyer is 2 maal gevonden, 2 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Applied Measurement With Jmetrik" is nieuw te koop vanaf € 56,99 bij Bol.com.

Nieuw (2) vanaf € 56,99 bij Bol.com Toon 2 nieuwe boeken
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 2 nieuwe boeken gevonden
Applied Measurement With Jmetrik

Type: Paperback
ISBN: 9780415531979
Levertijd: 16

Aanbieder:
€ 56,99
Bekijk boek
Applied Measurement With Jmetrik

Type: Hardcover
ISBN: 9780415531955
Levertijd: 16

Aanbieder:
€ 181,42
Bekijk boek


Andere populaire boeken van J. Patrick Meyer
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Reliability

ISBN: 9780195380361


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 48,99
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van J. Patrick Meyer