> > > > > electromigration-in-ulsi-interconnections

Cher Ming Tan - Electromigration In Ulsi Interconnections

Het boek Electromigration In Ulsi Interconnections van de auteur Cher Ming Tan is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Electromigration In Ulsi Interconnections" is nieuw te koop vanaf € 107,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 107,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Electromigration In Ulsi Interconnections

Type: Hardcover
ISBN: 9789814273329
Levertijd: 46

Aanbieder:
€ 107,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Cher Ming Tan
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Applications Of Finite Element Methods For Reliability Studies On Ulsi Interconnections

ISBN: 9780857293091


Bekijk boek

Nieuw (2)
vanaf € 100,99
Tweedehands (0)
Simulated Annealing

ISBN: 9789537619077


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 164,22
Tweedehands (0)
Electromigration Modeling At Circuit Layout Level

ISBN: 9789814451208


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 30,05
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Cher Ming Tan