> > > > > characterization-of-stress-in-ganonsapphire-microelectromechanical-systems-structures-using-microraman-spectroscopy

Francisco E Parada - Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy

Het boek Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy van de auteur Francisco E Parada is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy" is nieuw te koop vanaf € 52,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 52,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy

Type: Paperback
ISBN: 9781288368518
Levertijd: 19

Aanbieder:
€ 52,99
Bekijk boek