> > > > > a-new-sequential-goodnessoffit-test-for-a-family-of-two-parameter

Jae S Park - A New Sequential Goodness-of-fit Test For A Family Of Two Parameter

Het boek A New Sequential Goodness-of-fit Test For A Family Of Two Parameter van de auteur Jae S Park is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "A New Sequential Goodness-of-fit Test For A Family Of Two Parameter" is nieuw te koop vanaf € 57,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 57,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
A New Sequential Goodness-of-fit Test For A Family Of Two Parameter

Type: Paperback
ISBN: 9781249587347
Levertijd: 24

Aanbieder:
€ 57,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Jae S Park
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Interfacial Reactions In Nickel/titanium Ohmic Contacts To N-type Silicon Carbide

ISBN: 9780530001876


Bekijk boek

Nieuw (2)
vanaf € 59,99
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Jae S Park