> > > > > electrostatic-simulations-and-tests-of-the-ion-source-at-thetrap

Marc Schuh - Electrostatic Simulations And Tests Of The Ion Source At The-trap

Het boek Electrostatic Simulations And Tests Of The Ion Source At The-trap van de auteur Marc Schuh is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Electrostatic Simulations And Tests Of The Ion Source At The-trap" is nieuw te koop vanaf € 28,90 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 28,90 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Electrostatic Simulations And Tests Of The Ion Source At The-trap

Type: Paperback
ISBN: 9783639886917
Levertijd: 16

Aanbieder:
€ 28,90
Bekijk boek