> > > > > fringe-pattern-analysis-for-optical-metrology

Manuel Servin - Fringe Pattern Analysis For Optical Metrology

Het boek Fringe Pattern Analysis For Optical Metrology van de auteur Manuel Servin is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Fringe Pattern Analysis For Optical Metrology" is nieuw te koop vanaf € 145,00 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 145,00 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Fringe Pattern Analysis For Optical Metrology

Type: Hardcover
ISBN: 9783527411528
Levertijd: 7

Aanbieder:
€ 145,00
Bekijk boek