> > > > > threedimensional-positron-annihilation-momentum-measurement-technique-applied-to-measure-oxygenatom-defects-in-6h-silicon-carbide

Christopher A. Williams - Three-dimensional Positron Annihilation Momentum Measurement Technique Applied To Measure Oxygen-atom Defects In 6h Silicon Carbide

Het boek Three-dimensional Positron Annihilation Momentum Measurement Technique Applied To Measure Oxygen-atom Defects In 6h Silicon Carbide van de auteur Christopher A. Williams is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Three-dimensional Positron Annihilation Momentum Measurement Technique Applied To Measure Oxygen-atom Defects In 6h Silicon Carbide" is nieuw te koop vanaf € 57,99 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 57,99 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden


Andere populaire boeken van Christopher A. Williams
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Nieuw (2)
vanaf € 57,99
Tweedehands (0)
Nieuw (2)
vanaf € 54,99
Tweedehands (0)
Nieuw (2)
vanaf € 60,85
Tweedehands (0)