> > > > > new-approaches-to-image-processing-based-failure-analysis-of-nanoscale-ulsi-devices

Zeev Zalevsky - New Approaches To Image Processing Based Failure Analysis Of

Het boek New Approaches To Image Processing Based Failure Analysis Of van de auteur Zeev Zalevsky is 2 maal gevonden, 2 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "New Approaches To Image Processing Based Failure Analysis Of" is nieuw te koop vanaf € 43,99 bij Bol.com.

Nieuw (2) vanaf € 43,99 bij Bol.com Toon 2 nieuwe boeken
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 2 nieuwe boeken gevonden
New Approaches To Image Processing Based Failure Analysis Of

Type: Paperback
ISBN: 9780323241434
Levertijd: 14

Aanbieder:
€ 43,99
Bekijk boek
New Approaches To Image Processing Based Failure Analysis Of Nano-scale Ulsi Devices

Type: Paperback
ISBN: 9780323241434
Levertijd: 12

Aanbieder:
€ 47,99
Bekijk boek


Andere populaire boeken van Zeev Zalevsky
We hebben meer boeken van de Auteur gevonden. Hieronder ziet u de 3 boeken waar het meeste aanbod van is.
Integrated Nanophotonic Devices

ISBN: 9781437778489


Bekijk boek

Nieuw (2)
vanaf € 20,00
Tweedehands (0)
Recent Advances In Nano-technology

ISBN: 9783639341270


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 86,99
Tweedehands (0)
Optical Superresolution

ISBN: 9781441918321


Bekijk boek

Nieuw (1)
€ 130,87
Tweedehands (0)
Bekijk hier alle boeken van Zeev Zalevsky