> > > > > materials-circuits-and-devices-characterisation-and-control-of-defects-in-semiconductors

Materials, Circuits And Devices- Characterisation And Control Of Defects In Semiconductors

Het boek Materials, Circuits And Devices- Characterisation And Control Of Defects In Semiconductors is 1 maal gevonden, 1 maal nieuw en 0 maal tweedehands. "Materials, Circuits And Devices- Characterisation And Control Of Defects In Semiconductors" is nieuw te koop vanaf € 169,00 bij Bol.com.

Nieuw (1) vanaf € 169,00 bij Bol.com Toon 1 nieuw boek
Bent u de schrijver van dit boek of weet u iets over deze auteur?

Omero.nl is druk bezig om informatie over auteurs toe te voegen. Neem contact met ons op via support@omero.nl om een auteursprofiel aan te maken met een foto, biografie, website adres en sociale media links.
Nieuw
We hebben 1 nieuw boek gevonden
Materials, Circuits And Devices- Characterisation And Control Of Defects In Semiconductors

Type: Hardcover
ISBN: 9781785616556
Levertijd: 22

Aanbieder:
€ 169,00
Bekijk boek